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產(chǎn)品資料
首頁 >>> 產(chǎn)品中心 >>> 機(jī)械設(shè)備 >>> 裝置 >>> UVS2003N臺(tái)式半導(dǎo)體光學(xué)高輸出臭氧表面清洗改質(zhì)裝置

臺(tái)式半導(dǎo)體光學(xué)高輸出臭氧表面清洗改質(zhì)裝置

產(chǎn)品名稱: 臺(tái)式半導(dǎo)體光學(xué)高輸出臭氧表面清洗改質(zhì)裝置
產(chǎn)品型號: UVS2003N
產(chǎn)品特點(diǎn): 臺(tái)式半導(dǎo)體光學(xué)高輸出臭氧表面清洗改質(zhì)裝置
日本 Ribteras UVS2003N 是一款“高輸出、高均勻"的臺(tái)式 UV-臭氧清洗/表面改質(zhì)裝置,專為半導(dǎo)體、光學(xué)、±3 %、臭氧濃度 ≥ 200 ppm,3-5 min 即可將有機(jī)污染層(光刻膠殘膠、指紋、硅氧烷)降至 <

臺(tái)式半導(dǎo)體光學(xué)高輸出臭氧表面清洗改質(zhì)裝置 的詳細(xì)介紹

臺(tái)式半導(dǎo)體光學(xué)高輸出臭氧表面清洗改質(zhì)裝置

臺(tái)式半導(dǎo)體光學(xué)高輸出臭氧表面清洗改質(zhì)裝置

日本 Ribteras UVS2003N 是一款“高輸出、高均勻"的臺(tái)式 UV-臭氧清洗/表面改質(zhì)裝置,專為半導(dǎo)體、光學(xué)、度 ≥ 200 ppm,3-5 min 即可將有機(jī)污染層(光刻膠殘膠、指紋、硅氧烷)降至 < 1 nm 碳當(dāng)量。
  1. 光源與光學(xué)
    • 采用 200 W 高輸出低壓汞燈(主波 185 nm + 254 nm),搭配橢球冷鏡反射器,把 185 nm 短波 UV 集中投射到樣品表面,同步裂解 O? 生成高活性臭氧
    • 燈管壽命 8 000 h,能量衰減 < 10 %;反射鏡鍍 MgF? 增透,185 nm 反射率 ≥ 85 %,保證高臭氧產(chǎn)率
    • 樣品面照度:185 nm 波段 28-30 mW/cm2(距離 10 mm),254 nm 波段 45 mW/cm2,200 mm 有效區(qū)不均勻性 ±3 %(閉環(huán)校準(zhǔn)后)
  2. 臭氧與反應(yīng)腔
    • 密閉石英反應(yīng)腔,內(nèi)置 O? 濃度傳感器,實(shí)時(shí)顯示 0-300 ppm;出廠設(shè)定 200 ppm,可通過氣流閥微調(diào)
    • 腔體材料全 PFA + 石英,無金屬暴露,避免金屬離子污染;腔蓋帶安全聯(lián)鎖,開門自動(dòng)關(guān)燈/停臭氧
    • 單批處理時(shí)間:一般光刻膠殘膠 3 min,硅片表面 SAM 自組裝膜 5 min,AFM 基片 2 min 即可獲親水表面(接觸角 < 5°)
  3. 溫控與均勻性保證
    • 樣品臺(tái)可水冷(10-25 ℃循環(huán)),防止 UV 熱累積;臺(tái)面具 5 點(diǎn) UV 照度監(jiān)測,閉環(huán)反饋到電源,實(shí)現(xiàn)燈功率實(shí)時(shí)補(bǔ)償,保證 ±3 % 面內(nèi)均勻
    • 可選加熱臺(tái)(RT-150 ℃),用于 UV-臭氧 + 低溫烘烤同步改質(zhì),縮短有機(jī)去除時(shí)間 30 %
  4. 控制與數(shù)據(jù)
    • 7 吋彩色觸控屏,中文/英文/日文界面;20 組配方,可設(shè) UV 功率、O? 濃度、處理時(shí)間、氮?dú)獯祾邥r(shí)間
    • USB-A ×2 + RS-485:實(shí)時(shí)輸出照度、臭氧、溫度曲線,支持 CSV 導(dǎo)出,對接 MES/實(shí)驗(yàn)室 LIMS
    • 記錄文件含 Recipe ID、操作員、開始/結(jié)束時(shí)間、平均照度、累計(jì)劑量,滿足 ISO 9001 追溯要求
  5. 硬件規(guī)格
    • 主機(jī):W 340 × D 450 × H 320 mm,25 kg,臺(tái)式;前方抽屜式樣品或 8″ 方片
    • 電源:AC 100-240 V 50/60 Hz,500 W;排氧口 φ8 mm 快擰,可直接接入廠務(wù)中和塔或活性炭吸附器
    • 壽命耗材:185 nm 燈管 8 000 h,O? 傳感器 2 年,反射鏡視污染程度 2-3 年擦拭/更換
  6. 典型行業(yè)應(yīng)用
    • 半導(dǎo)體:晶圓貼片前 UV-臭氧去有機(jī)污染,提升金-金熱壓鍵合強(qiáng)度 15 %
    • 光學(xué):透鏡鍍膜前 3 min 清洗,鍍層附著力拉拔力由 8 N 提到 12 N
    • MEMS:AFM 探針基片 2 min 親水化,接觸角從 65° 降到 < 3°,保證后續(xù)光刻膠鋪展均勻
    • OLED:玻璃基板 ITO 表面 5 min 改質(zhì),陽極功函數(shù)提升 0.2 eV,驅(qū)動(dòng)電壓降低 0.3 V
  7. 選型提示
    • 若需雙面同時(shí)處理,可選 UVS2003N-Dual,上下雙燈對射,單片通過式節(jié)拍 30 s
    • 若處理 300 mm 晶圓,可升級 UVS3005N,照度不均仍保持 ±3 %,臭氧 250 ppm
一句話總結(jié):UVS2003N 用“200 W 185 nm 高輸出燈 + 橢球反射鏡 + 閉環(huán)照度/臭氧雙控"在 200 mm 范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn) ±3 % 均勻清洗,3-5 min 即可將有機(jī)污染降至亞納米級,是半導(dǎo)體、光學(xué)、MEMS 實(shí)驗(yàn)室和產(chǎn)線實(shí)現(xiàn)“高均勻、低金屬污染"UV-臭氧表面改質(zhì)的臺(tái)式主力機(jī)型。
日本 Ribteras UVS2003N 是一款“高輸出、高均勻"的臺(tái)式 UV-臭氧清洗/表面改質(zhì)裝置,專為半導(dǎo)體、光學(xué)、min 即可將有機(jī)污染層(光刻膠殘膠、指紋、硅氧烷)降至 < 1 nm 碳當(dāng)量。
  1. 光源與光學(xué)
    • 采用 200 W 高輸出低壓汞燈(主波 185 nm + 254 nm),搭配橢球冷鏡反射器,把 185 nm 短波 UV 集中投射到樣品表面,同步裂解 O? 生成高活性臭氧
    • 燈管壽命 8 000 h,能量衰減 < 10 %;反射鏡鍍 MgF? 增透,185 nm 反射率 ≥ 85 %,保證高臭氧產(chǎn)率
    • 樣品面照度:185 nm 波段 28-30 mW/cm2(距離 10 mm),254 nm 波段 45 mW/cm2,200 mm 有效區(qū)不均勻性 ±3 %(閉環(huán)校準(zhǔn)后)
  2. 臭氧與反應(yīng)腔
    • 密閉石英反應(yīng)腔,內(nèi)置 O? 濃度傳感器,實(shí)時(shí)顯示 0-300 ppm;出廠設(shè)定 200 ppm,可通過氣流閥微調(diào)
    • 腔體材料全 PFA + 石英,無金屬暴露,避免金屬離子污染;腔蓋帶安全聯(lián)鎖,開門自動(dòng)關(guān)燈/停臭氧
    • 單批處理時(shí)間:一般光刻膠殘膠 3 min,硅片表面 SAM 自組裝膜 5 min,AFM 基片 2 min 即可獲親水表面(接觸角 < 5°)
  3. 溫控與均勻性保證
    • 樣品臺(tái)可水冷(10-25 ℃循環(huán)),防止 UV 熱累積;臺(tái)面具 5 點(diǎn) UV 照度監(jiān)測,閉環(huán)反饋到電源,實(shí)現(xiàn)燈功率實(shí)時(shí)補(bǔ)償,保證 ±3 % 面內(nèi)均勻
    • 可選加熱臺(tái)(RT-150 ℃),用于 UV-臭氧 + 低溫烘烤同步改質(zhì),縮短有機(jī)去除時(shí)間 30 %
  4. 控制與數(shù)據(jù)
    • 7 吋彩色觸控屏,中文/英文/日文界面;20 組配方,可設(shè) UV 功率、O? 濃度、處理時(shí)間、氮?dú)獯祾邥r(shí)間
    • USB-A ×2 + RS-485:實(shí)時(shí)輸出照度、臭氧、溫度曲線,支持 CSV 導(dǎo)出,對接 MES/實(shí)驗(yàn)室 LIMS
    • 記錄文件含 Recipe ID、操作員、開始/結(jié)束時(shí)間、平均照度、累計(jì)劑量,滿足 ISO 9001 追溯要求
  5. 硬件規(guī)格
    • 主機(jī):W 340 × D 450 × H 320 mm,25 kg,臺(tái)式;前方抽屜式樣品炭吸附器
    • 壽命耗材:185 nm 燈管 8 000 h,O? 傳感器 2 年,反射鏡視污染程度 2-3 年擦拭/更換
  6. 典型行業(yè)應(yīng)用
    • 半導(dǎo)體:晶圓貼片前 UV-臭氧去有機(jī)污染,提升金-金熱壓鍵合強(qiáng)度 15 %
    • 光學(xué):透鏡鍍膜前 3 min 清洗,鍍層附著力拉拔力由 8 N 提到 12 N
    • MEMS:AFM 探針基片 2 min 親水化,接觸角從 65° 降到 < 3°,保證后續(xù)光刻膠鋪展均勻
    • OLED:玻璃基板 ITO 表面 5 min 改質(zhì),陽極功函數(shù)提升 0.2 eV,驅(qū)動(dòng)電壓降低 0.3 V
  7. 選型提示
    • 若需雙面同時(shí)處理,可選 UVS2003N-Dual,上下雙燈對射,單片通過式節(jié)拍 30 s
    • 若處理 300 mm 晶圓,可升級 UVS3005N,照度不均仍保持 ±3 %,臭氧 250 ppm
一句話總結(jié):UVS2003N 用“200 W 185 nm 高輸出燈 + 橢球反射鏡 + 閉環(huán)照度/臭氧雙控"在 200 mm 范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn) ±3 % 均勻清洗,3-5 min 即可將有機(jī)污染降至亞納米級,是半導(dǎo)體、光學(xué)、MEMS 實(shí)驗(yàn)室和產(chǎn)線實(shí)現(xiàn)“高均勻、低金屬污染"UV-臭氧表面改質(zhì)的臺(tái)式主力機(jī)型。



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