臺(tái)式離線電容式測(cè)厚儀
適用于軟薄膜和薄膜
| 模型 | TOF-C2 * TOF-C 的后續(xù)型號(hào) |
|---|---|
| 測(cè)量方法 | 非接觸式/電容式 |
| 測(cè)量對(duì)象 | 薄膜、粘性保護(hù)膜、易附著灰塵的薄膜 |
| 測(cè)量原理 | 電容式 |
產(chǎn)品特點(diǎn)
高測(cè)量分辨率
由于是非接觸型，因此非常適合接觸型難以測(cè)量的薄膜。
即使表面狀況粗糙，也可以進(jìn)行測(cè)量。
基重測(cè)量
操作簡單（具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè)置功能）
產(chǎn)品規(guī)格
| 測(cè)量厚度 | ~ 500 微米 |
|---|---|
| 測(cè)量長度 | 10 至 10000 毫米 |
| 測(cè)量間距 | 1 毫米 ~ |
| 最小顯示值 | 0.01微米 |
| 電源電壓 | AC100V 50 / 60Hz |
| 工作溫度限制 | 5-40℃（測(cè)量時(shí)溫度變化1℃以內(nèi)） |
| 濕度 | 35-80%（無冷凝） |
在線客服